学术报告：Fault tolerance for emerging technologies, emphasized in 3D ICs and CNFET circuits（新工艺器件电路中的容错问题：三维集成电路与碳纳米管晶体管电路初探）

发布时间：2016-05-19 00:00:140阅读次数：194来源单位：南通大学责任编辑：

题  目：Fault tolerance for emerging technologies, emphasized in 3D ICs and CNFET circuits（新工艺器件电路中的容错问题：三维集成电路与碳纳米管晶体管电路初探）

主讲人：蒋力（博士）上海交通大学

时  间： 2016 年 5 月 20 日 （周五）上午9:00

地  点：主校区JSJ-110会议室

欢迎广大师生参加！

 

 

                            专用集成电路设计重点实验室

                          南通大学科协

                           二〇一六年五月十七日

 

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